ДИФРАКЦИЯ, ЭКСТРАКЦИЯ И ФОКУСИРОВКА ПАРАМЕТРИЧЕСКОГО РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ, ИЗЛУЧЕНИЯ ПРИ КАНАЛИРОВАНИИ И ОНДУЛЯТОРНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ
A.В. Щагин
Full Text : (1830 kB, Eng)
Анотація
В работе описана возможность фокусировки параметрического рентгеновского излучения (ПРИ) без применения какой-либо специальной рентгеновской оптики. ПРИ испускается релятивистской заряженной частицей, движущейся в режиме каналирования вдоль изогнутого кристалла. Фокусируется ПРИ, испускаемое со всей длины изогнутого кристалла. Оценены некоторые свойства сфокусированного ПРИ и обсуждаются его возможные применения. Кроме того, описана возможность дифракции ПРИ, испущенного релятивистской частицей в изогнутом кристалле. ПРИ, испущенное от одной системы кристаллографических плоскостей, может подвергаться дифракции на другой системе кристаллографических плоскостей. Описан пример, где ПРИ испускается в направлении назад и подвергается дифракции под прямым углом. После дифракции излучение покидает тонкий кристалл и фокусируется. Оценены некоторые свойства дифрагированного сфокусированного ПРИ. Предложен эксперимент по наблюдению фокусировки ПРИ и дифрагированного ПРИ. Предложено применение сфокусированного ПРИ для оперативного контроля состояния и ориентации изогнутого кристалла и пучка. Кроме того, впервые показаны возможности дифракции, экстракции и фокусировки ондуляторного излучения из кристаллического ондулятора, а также фокусировки излучения при каналировании. Предлагается планировать установку детектора(ов) рентгеновского излучения вблизи направления(й) Брэгга в будущих экспериментах с кристаллическим ондулятором для наблюдения ондуляторного излучения и оперативного контроля состояния пучка, ондулятора и его ориентации.
|
КЛЮЧОВІ СЛОВА: параметрическое рентгеновское излучение, излучение при каналировании, дифракция рентгеновского излучения, изогнутый кристалл, фокусировка, мнимые изображения, фокусировка излучения при каналировании, фокусировка ондуляторного излучения
|